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SEM QUANTAX EDS
布鲁克新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探测器系列,探测器的有效面积为 10 至 100 mm2。第 6 代 EDS 提供硬件和软件技术,以实现最快、最可靠的结果:节省时间
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EDAX EDS TEM Octane
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EDAX EDS Octane Elect
Octane Elect EDS 系统Octane Elect EDS 系统是一款增强型能量色散谱 (EDS) 平台,融入了最新硅漂移探测器 (SDD) 技术和高速电子元件。Octane Elect
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EDAX EDS Octane Elite
Octane Elite EDS 系统Octane Elite SDD 的颠覆性进展将探测器技术提升至一个全新高度。此系列探测器采用了新型氮化硅 (Si3N4) 窗口,使轻元素检测和低 kV 微区分
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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牛津仪器Ultim Extreme能谱探测器
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Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发Amptek推出全新SDD探测器,针对电子显微镜能谱仪客户应用(EDS SEM)利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4),能够对
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Ultim Extreme 硅漂移探测器
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Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析
点击查看下载Prisma E SEM扫描电子显微镜扫描电镜 工业中的 SEM 和 EDS 分析相关资料,进一步了解产品。 随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量
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